diatest剖分球探頭T-0.50用于孔徑測量

diatest剖分球探頭T-0.50用于孔徑測量

分球式測頭是靈活的通用孔徑規(guī)，用于指示內(nèi)部測量值

模塊化設(shè)計與廣泛的附件相結(jié)合，可以測量最常見的孔。這允許使用串行和單獨控制，

以及優(yōu)先在工廠直接在生產(chǎn)機(jī)器上使用。

40.63 mm 效率更高

DLC Black Diamond – 全新 DLC 涂層

無論您選擇我們最小的 0.47 mm 分球探頭還是最大的 41.10 mm 的分球探頭。

所有DIATEST分體球探頭均由新的類金剛石DLC涂層保護(hù)。他們“臉上更強(qiáng)硬”。

具體優(yōu)勢：使用壽命更長 - 使用更密集 - 經(jīng)濟(jì)效益高！

DLC黑鉆

由于摩擦阻力低，具有磨損保護(hù)

符合REACH標(biāo)準(zhǔn)

高硬度和高耐久性，安全性高

持續(xù)的準(zhǔn)確性和精確度帶來的安全性

通過DIATEST質(zhì)量確保安全

應(yīng)用范圍：

DLC 涂層標(biāo)準(zhǔn)分體球探頭：Ø 0.47 – 41.1mm

插入硬質(zhì)合金的分體式球探頭：Ø 1.5 – 41.1 mm

標(biāo)準(zhǔn)分體式球探頭，插入陶瓷：Ø 3.7 – 41.1 mm

盲孔探頭，鍍DLC涂層：Ø 1.5 – 41.1 mm

T-3P：3 – 點探頭：Ø 4.75 – 150.6 mm

用于測量更深孔的分體式球形測頭：Ø 2.05 – 9.8 mm

用于平行測量的分球探頭：Ø 4.7 – 41.1 mm

可根據(jù)要求提供特殊形狀，分別測量外徑、凹槽等

在設(shè)置主站時進(jìn)行零點設(shè)置，例如根據(jù) DIATEST 公司標(biāo)準(zhǔn)或 DIN 2250-C

重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)分球探頭）：手動測量約 1 μm，支架測量 < 0.5 μm

除了孔測量外，DIATES分球式測頭還可以檢測幾何形狀缺陷，如橢圓度、同心度、筒形等。

種類繁多的配件完善了分體球系列。可以購買裝在木盒中的分體式球探頭，例如測量范圍為 3.7 至 9.8 mm。

分辨率為 0.01 或 0.001 mm 的機(jī)械指示器可用于顯示，或數(shù)字最小-最大指示器可用于通過 DIAWIRELESS 傳輸測量值。

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