漢達(dá)森專業(yè)銷售langer-emv探頭XFS系列

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       XFS-R 3-1

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　　掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz

　　XFS-R 3-1 掃描儀探測器設(shè)計(jì)用于在組件上直接高分辨率測量射頻磁場，例如圍繞引腳和 IC 外箱、導(dǎo)路、脫鉤電容器和 EMC 組件。

　　XFS-B 3-1

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz

　　XFS-B 3-1磁場掃描儀探測器的測量線圈正交地排列在探針軸上。通過垂直定位探頭，測量線圈直接接觸打印電路板的表面。這允許在印刷電路野豬表面的地方使用。
漢達(dá)森 祁佳強(qiáng)177*4453*6447

　　XFS-E 10

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz

　　XFS-E 10 掃描儀探頭中的電極寬度約 0.2 毫米。有了探針，甚至最小的電子場源也可以定位，例如導(dǎo)電寬度為 0.1 mm 的路徑或多固定 IC 上的單個(gè)引腳。要測量，電子場探頭被定位到對象上。

　　XFS-E 09s

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz 漢達(dá)森 祁佳強(qiáng)177*4453*6447

　　XFS-E 09s 掃描儀探測器頭上的電極檢測電子場，例如，這些電場在 IC 表面上方脫鉤。探測器的分辨率允許在總成上方距離為 0.5 mm 到 10 mm 的測量。用于測量，電子場探頭放置在目標(biāo)上。