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Physik Instrumente(PI)線性平臺(tái)進(jìn)口價(jià)格預(yù)計(jì)全面上浮

2021-06-07 14:28:43瀏覽:201 來源:德國   
核心摘要:應(yīng)用領(lǐng)域   工業(yè)和科研。半導(dǎo)體或醫(yī)學(xué)技術(shù)中的測(cè)量技術(shù)、光子學(xué)及精密掃描

  德國PI公司是運(yùn)動(dòng)和定位領(lǐng)域的全球解決方案供應(yīng)商。

祁佳強(qiáng)
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  PI不僅開發(fā)和生產(chǎn)各種定位平臺(tái)和執(zhí)行器,用于線性,旋轉(zhuǎn)和垂直運(yùn)動(dòng)或不同軸的組合。 PI因此將這些解決方案適應(yīng)客戶特定的應(yīng)用或提供用于運(yùn)動(dòng)和定位的成品子系統(tǒng)。

  帶有由電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)的機(jī)械導(dǎo)軌的定位和運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)是自動(dòng)化過程中的核心組件。這正是PI miCos擁有其核心專業(yè)知識(shí)的地方。已經(jīng)有廣泛的精密軸,適用于個(gè)人應(yīng)用和OEM客戶。 PI miCos在Eschbach將PIMag®線性電動(dòng)機(jī),由PI開發(fā)的現(xiàn)代電動(dòng)機(jī)(例如DC(BLDC),AC或步進(jìn)電動(dòng)機(jī))集成到高精度,機(jī)械引導(dǎo)的頂級(jí)定位系統(tǒng)中。

  PI (Physik Instrumente) P-542.PD1 用于P-54x納米定位系統(tǒng)的培養(yǎng)皿支架,35 毫米 P-542.SH1 用于P-54x納米定位系統(tǒng)的顯微鏡載片支架

  PI (Physik Instrumente) P-611.2S XY向納米定位系統(tǒng),100微米 × 100微米,應(yīng)變片 傳感器

  PI (Physik Instrumente) P-611.20 XY向納米定位系統(tǒng),100微米 × 100微米,不帶傳感器

  PI (Physik Instrumente) P-611.XZS XZ向納米定位系統(tǒng),100微米 × 100微米,應(yīng)變片傳感器

  PI (Physik Instrumente) P-611.XZ0 XZ向納米定位系統(tǒng),100微米 × 100微米,不帶傳感器

  PI (Physik Instrumente) P-612.20L XY 向納米定位系統(tǒng),130微米 × 130微米,孔徑為20毫米 × 20毫米,開環(huán)

  PI (Physik Instrumente) P-612.2SL XY 向納米定位系統(tǒng),100微米 × 100微米,孔徑為20毫米 × 20毫米,應(yīng)變片傳感器

  PI (Physik Instrumente) P-620.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統(tǒng),50微米 × 50微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,Sub-D連接器

  PI (Physik Instrumente) P-621.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統(tǒng),100微米 × 100微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,Sub-D連接器

  PI (Physik Instrumente) P-622.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統(tǒng),250微米 × 250微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,Sub-D連接器

  PI (Physik Instrumente) P-625.2CD 精密PIHera XY向納米定位 系統(tǒng),500微米 × 500微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,Sub-D連接器

  PI (Physik Instrumente) P-628.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統(tǒng),800微米 × 800微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,Sub-D連接器

  PI (Physik Instrumente) P-629.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統(tǒng),1500微米 × 1500微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,Sub-D連接器

  PI (Physik Instrumente) P-620.2CL 精密PIHera XY向納米定位系統(tǒng),50微米 × 50微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,LEMO連接器

  PI (Physik Instrumente) P-621.2CL 精密PIHera XY向納米定位系統(tǒng),100微米 × 100微米,直接位置測(cè)量,電容傳感器,LEMO連接器

  Physik Instrumente (PI)線性平臺(tái)進(jìn)口 N-565.360

    Physik Instrumente (PI)-P-613

    Physik Instrumente (PI)-P-630

    Physik Instrumente (PI)-P-712

    Physik Instrumente (PI)-P-725

    Physik Instrumente (PI)-S-330

    Physik Instrumente (PI)-S-335

    Physik Instrumente (PI)-S-340

    Physik Instrumente (PI)-U-523

    Physik Instrumente (PI)-V-408

    Physik Instrumente (PI)-V-741

  訂購信息

  N-565.160

  精密線性定位平臺(tái),行程為13毫米,PIOne線性編碼器,分辨率為0.5納米,驅(qū)動(dòng)力為10牛,尺寸為65 × 80 ×

  20毫米(寬 × 長(zhǎng) × 高),NEXACT壓電步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器

  N-565.260

  精密線性定位平臺(tái),行程為26毫米,PIOne線性編碼器,分辨率為0.5納米,驅(qū)動(dòng)力為10牛,尺寸為65 × 110 ×

  20毫米(寬 × 長(zhǎng) × 高),NEXACT壓電步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器

  N-565.360

  精密線性定位平臺(tái),行程為52毫米,PIOne線性編碼器,分辨率為0.5納米,驅(qū)動(dòng)力為10牛,尺寸為65 × 160 ×

  20毫米(寬 × 長(zhǎng) × 高),NEXACT壓電步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器

  行程為80、170和250毫米

  增量或絕對(duì)式線性編碼器,多種分辨率

  用于實(shí)現(xiàn)高負(fù)載能力的交叉滾柱導(dǎo)軌

  無鐵芯或鐵芯線性電機(jī)

  緊湊的橫截面:80毫米 × 25毫米

  適應(yīng)能力強(qiáng)

  構(gòu)造可實(shí)現(xiàn)需求的靈活適應(yīng)。通過采用不同的行程、驅(qū)動(dòng)器和測(cè)量系統(tǒng),產(chǎn)品可同樣適用于技術(shù)復(fù)雜、臨界成本應(yīng)用。XY組件也可實(shí)現(xiàn)

  交叉滾柱導(dǎo)軌

  對(duì)于交叉滾柱導(dǎo)軌,滾珠導(dǎo)軌中的滾珠的接觸點(diǎn)被淬火滾柱的線接觸取代。因此,它們的剛度明顯提高,需要的預(yù)載更小,這減少了摩擦并實(shí)現(xiàn)了更平滑的運(yùn)行。交叉滾柱導(dǎo)軌還具有高導(dǎo)向精度和高負(fù)載能力的特征。力導(dǎo)向滾動(dòng)體保持架防止保持架蠕變。

  應(yīng)用領(lǐng)域

  工業(yè)和科研。半導(dǎo)體或醫(yī)學(xué)技術(shù)中的測(cè)量技術(shù)、光子學(xué)及精密掃描

  PIMag磁力直接驅(qū)動(dòng)

  三相磁性直接驅(qū)動(dòng)器在動(dòng)力傳動(dòng)系統(tǒng)中未使用機(jī)械零件,其可直接將驅(qū)動(dòng)力傳輸至運(yùn)動(dòng)平臺(tái),且無摩擦。驅(qū)動(dòng)器可實(shí)現(xiàn)高速度和高加速度。

  無鐵芯電機(jī)非常適合對(duì)精度有超高要求的定位任務(wù),因?yàn)槠洳粫?huì)與永久性磁鐵發(fā)生不良作用。這樣即使在最低的速度下也能保持平穩(wěn)的運(yùn)行,同時(shí),在高速狀態(tài)下也不會(huì)產(chǎn)生振動(dòng)。避免了控制的非線性行為并且每個(gè)位置都很容易控制。驅(qū)動(dòng)力可任意設(shè)定。

  力和加速度需要在有限安裝空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)時(shí),使用鐵芯電機(jī)。鐵芯設(shè)計(jì)使磁力最大化,確保驅(qū)動(dòng)器的高熱穩(wěn)定性。

  直接位置測(cè)量

  以極高的精度直接在運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上進(jìn)行位置測(cè)量,因此非線性效應(yīng)、機(jī)械作用或彈性形變不會(huì)對(duì)位置測(cè)量造成影響

(責(zé)任編輯:祁工)
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